開關(guān)電源波形產(chǎn)生原理分析

其實米勒效應描述的就是電子器件中輸出和輸入之間的電容反饋。

其實對于第③點波形的分析我自己覺得我的分析還不是很有說服力，所以借此和大家探討第③點波形（為什么會有負電流產(chǎn)生？），希望大家不要吝嗇自己獨到的見解。晚上有時間上傳本人②④波形的分析。

上面的實測波形就是普通的反激式，電流采樣電阻就是接在MOS的S腳。
畫個大概的原理圖，這個相信大家都做過。

上圖中，Ls為漏感，Lm為激磁電感，Cs為分布電容，Cd和Cds分別為肖特基和MOS的結(jié)電容。
下面分析②點電流尖峰波形產(chǎn)生的原因：
在開關(guān)導通之前，輸入電壓和電感的感應電動勢對結(jié)電容Cds和分布電容Cs進行了充電，
在Q1接通的瞬間，Cs和Cds瞬間放電,產(chǎn)生電流（①路線和③路線）疊加到MOS管。
如果是反激的話，次級關(guān)斷，D1由于結(jié)電容產(chǎn)生反向恢復電流，經(jīng)過線圈反射到初級，
如上圖的②路線。如果是DCM模式，由于二極管中在MOS導通前已經(jīng)沒有電流存在了，
所以在DCM中這部分尖峰電流沒有。
總結(jié)一下：就是由上面的①②③個通路產(chǎn)生了開通瞬間的那個電流尖峰。

實際探頭接的就是MOS的S腳和GND，能量通過MOS，為什么電流不到S腳！電流到了S腳，自然有一部分電流通過采樣電阻。
第二個問題的確是筆誤，CCM模式下才會有那個反向恢復電流。
上個圖大家就明白了：

我說一下我的見解，現(xiàn)在有一種很熱的ZVS技術(shù)，即零電壓開關(guān)，在LCD中用的很多。
為什么這種技術(shù)會誕生，就是為了解決MOS的開通損耗，
為什么會有開通損耗呢，那就是因為MOS的結(jié)電容，
為什么MOS的結(jié)電容會造成損耗呢，就是像第①點波形的分析過程，增加了開關(guān)導通時間，（關(guān)于MOS的損耗問題大家請參考《精通開關(guān)電源設(shè)計》書籍）。
所以說，新的技術(shù)要誕生，就要知道舊的技術(shù)的不足之處根本在哪！

你的說了是阻尼振蕩了，所以那個波形的幅度離Vin+Vor肯定是越來越遠啊。只有個類似正弦波的峰值可以達到Vin+Vor.

其實還有一個波形沒有分析，就是Vds上的個電壓尖峰，這個波形相信大家都比較熟悉，跟上面那個分析方法類似，如有不明白再問。

好了，就剩第③點波形了，通過上面的三個波形分析，電源適配器生產(chǎn)廠家希望各位能人能發(fā)表自己對那個負電流的見解？

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