提高電源適配器浪涌失效機理和能力 | ||||||||||
首先介紹一下什么是浪涌。浪涌一般是在開關(guān)瞬態(tài)或者雷電瞬態(tài)過程中產(chǎn)生的。 浪涌測試的官方叫法是“浪涌(沖擊)抗擾度實驗”; 測試標準參考IEC61000-4-5,或者GB/T 17626.5;該標準里面有詳細闡述了有關(guān)浪涌的知識。 我們在測電源適配器浪涌時,由浪涌發(fā)生器輸出的波形是一種組合波:1.2/50us電壓波(開路電壓)和8/20us電流波(短路電流),發(fā)生器的等效阻抗是2歐姆,用開路電壓峰值除以短路電流峰值就是該等效阻抗。具體波形參考下面兩圖: 1.2/50us開路電壓波,1.2us是波形的上升時間,具體指波形從10%上升到90%所用的時間,50us是半峰值時間,具體指波形上升至50%到波形下降至50%的時間,用示波器測量設(shè)備的開路波形就是這樣的。 8/20us短路電流波,8us是波形的上升時間,20us是半峰值時間,具體定義同上,將設(shè)備的輸出端短路,測試短路電流就是這樣的波形。 這幾個時間及開路電壓峰值、短路電流的誤差見下表:
由表可見,該試驗標準規(guī)定的誤差還是比較大的,打浪涌曾經(jīng)有這樣的經(jīng)歷:一個EUT在自己的驗室打浪涌過了,但在別人家實驗室,同等級的浪涌就是過不了,浪涌設(shè)備還是同一個廠家的,很奇怪, 較后對比兩個設(shè)備的波形發(fā)現(xiàn),一個偏上限,一個偏下限,都沒有超出標準范圍。其實標準范圍大了,方便了造設(shè)備的。 今天剛給一個LED電源適配器打完4kV浪涌,附上4kV浪涌時,MOS管的波形,供參觀,下次再見: CH1-深藍色-VGS波形, CH2-淺藍色-VDS波形,較大816V, CH3-紫色-IDS波形,較大10.4A, CH4-綠色-L線電流波形,較大800A。 LED八字尾電源適配器-單級PFC結(jié)構(gòu),由于沒有大電解,在打浪涌時,浪涌能量很容易傳遞到功率MOS上。浪涌對MOS管的沖擊失效一般有兩種失效模式: 1-浪涌引起MOSFET 電流應(yīng)力超過額定值,導(dǎo)致失效; 根據(jù)伏秒平衡定律,反激開關(guān)電源適配器變壓器電感: 公式1 其中Von=Vin,D為占空比,r=0.3-0.5,fsw指開關(guān)頻率,IL是電感電流。Von一般較大277Vac或者300Vac,但是在浪涌脈沖測試時,由于母線電壓突然升高,超過設(shè)計輸入電壓較高值1.2倍或者更多,變壓器電感會迅速出現(xiàn)飽和。下圖1中紫色電流在開關(guān)周期后階段出現(xiàn)飽和跡象,MOSFET電流應(yīng)力迅速上升達到7.32A。在正常開關(guān)周期,MOSFET IDS=3A。器件在高電流、高電壓應(yīng)力發(fā)生雪崩,MOSFET失效,表現(xiàn)為短路,引起開關(guān)電源適配器輸入端保險絲,整流橋和驅(qū)動IC失效。 圖1浪涌測試 紫色MOSFET IDS 黃色是VDS 圖2浪涌測試 紫色VDS電壓 ,藍色是IDS SJ-MOSFET 0.3Ω/700V 10A80E VD-MOSFET EAS=454mJ 2-浪涌引起MOSFET 電壓應(yīng)力超過極限值,導(dǎo)致失效 開關(guān)電源適配器在浪涌測試時,由于前端浪涌吸收器件(壓敏電阻等)規(guī)格參數(shù)偏小導(dǎo)致母線電壓迅速爬升,進而導(dǎo)致MOSFET電壓應(yīng)力迅速超過額定電壓1.1-1.2倍,MOSFET器件會迅速進入雪崩,IDS電流瞬間變大,導(dǎo)致器件功耗急劇增加,巨大的功耗轉(zhuǎn)換為溫升超過芯片極限溫度而引起失效。如圖2所示,60W 單級PFC LED電源適配器, 1.5KV 差模浪涌測試失效波形。結(jié)合圖3更準確說明此類問題,圖3所示黃色曲線電壓低于680V時,MOSFET處在關(guān)斷狀態(tài),IDS幾乎等于0;一旦超過680V,MOS管反向擊穿,電壓被嵌位,IDS電壓迅速爬升,后面器件由于熱量失控而導(dǎo)致失效。 圖316N65A VD-MOSFET EAS=1000mJ 圖416N65A 規(guī)格書極限參數(shù) EAS=1000mJ 黃色線是MOSFETVDS電壓,藍色是IDS 浪涌失效瞬間,MOSFET短路,隨后繼續(xù)流過大電流,燒毀其他器件,尤其是采樣電阻較易燒壞,再燒斷保險司或者其他線路,使電源適配器與輸入斷開。 一般都是芯片被嚴重燒傷,見下圖。 圖5 浪涌失效芯片外觀 圖6 浪涌失效芯片外觀
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| 發(fā)布時間:2019.03.19 來源:電源適配器廠家 |
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